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多模态超分辨显微成像系统

多模态超分辨显微成像系统

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产品名称: 多模态超分辨显微成像系统

英文名称: Multimodal superresolution microscopic imaging system

产品编号: MS4000

产品价格: null

产品产地: 中国

品牌商标: 柏纳

更新时间: 2024-04-29T09:12:09

使用范围: null

杭州柏纳光电有限公司
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多模态超分辨显微成像系统提供出色的STED超高分辨率和共聚焦成像品质,还可实现FED、NFOMM等点扫描成像方法;在探测路采用多通道并行探测,可进行airysplit成像、VIKMOM成像。可实现横向分辨率1/2到1/30波长的多色超分辨三维成像

六边形-多模态.png

主要特点:

l   集成五种成像模式:共聚焦、FED、NFOMM、FLIM 、STED

l   成像分辨率极限:X,Y横向分辨率(XY):~20nm,Z轴轴向分辨率(Z):~50nm   

l   超分辨成像软件:包括控制、检测、分析功能,支持多种成像模式

仪器性能描述 指标

 

光源

超连续白光光源(多至8通道可配置)

声光调制器(AOTF)协调控制,实现各通道激光的高速独立调节

激光强度调节范围为0.01%-100%,最小调节步进精度为0.01%

STED抑制光

775nm脉冲激光器,相较于连续光抑制,可减少对样品的光漂白效应

通过AOM进行光强调节

 

共聚焦模式

空间分辨率

横向:1/2λ-1/3λ

成像速度

4fps   @ 512×512 pixels

图像尺寸

8192 x 8192 pixels

 

STED模式

空间分辨率

横向:1/8λ-1/30λ

成像速度

1fps @ 512×512   pixels

图像尺寸

8192×8192 pixels,94μm×94μm @ 100X 物镜

FED模式

空间分辨率

横向:1/3λ-1/4λ

图像尺寸

8192 x 8192 pixels

FLIM模式

探测器

7个APD,1个时间相关单光子计数系统(TCSPC)

成像模式

实时显示平均寿命图像