CME-EL电致发光外量子效率测量系统

OLED器件的发光效率取决于各种因素，例如各层膜和玻璃基板的吸收率，表面的反射率，玻璃基板的辐射角和波导能力，采用集成球作为样品室来抵消这些因素造成的影响。

产品详情

CME-EL电致发光外量子效率测量系统（EQE)是一种紧凑，操作便捷，可在手套箱内完成搭建。发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（ELelectroluminescence）方法测量。

主要特点:

l可以测量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931；

l光谱仪系统采用制冷型CCD信噪比高、杂散光低；

l体积小巧：便于灵活使用及运输；

l坚固、紧凑的设计，可以***限度减少实验室空间；

l专业软件，操作简单；软件显示：J-V曲线、L-J曲线、LmEff-J曲线、EQE-J曲线、CIE1931 XYGraph曲线。

技术参数