电子半导体清洁度分析系统
产品简介：电子半导体清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；
TC-XS100型 可勃吸收性测定仪
C-XS100型 可勃吸收性测定仪是纸张和纸板表面吸水性测定的专用仪器，采用吸收性试验多种方法中可勃（Cobb）试验法进行测试。其主要技术指标和性能参数符合相关标准规定。
磁化率仪/磁化率天平
用于测量物质的磁化率（固体、液体和气体皆可）。只需少量样品（50mg-250mg），即可快速测量出顺磁和抗磁物质的磁化率。机器轻便（主机2.2kg），方便携带。
TC-SLY 薄膜撕裂度
撕裂度仪专业适用于薄膜、薄片、软聚氯乙烯、聚偏二氯乙烯（PVDC）、防水卷材、编织材料、聚烯烃、聚酯、纸张、纸板、纺织品和无纺布等耐撕裂性检测。