P-2000系列多选择式全自动数字旋光光谱仪，结合了先进的光学技术，按照客户定制设计，根据顾客的不同用途和预算金额，做出各种各样的选择，大限度地满足客户的不同需求。并能够简单地升级。多波长可选的滤光片覆盖了紫外、可见到近红外区域，保证了客户在该区域内的
产品货号：P-2000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1995 商家询价
JASCO FT/IR-6600, FT/IR-6700和FT/IR-6800具有业界高信噪比和分辨率，其性能水平在同行的仪器中绝对是高的。FT/IR-6000系列的结构设计广泛适用于各种研发应用，每种型号都能自近红外(25000 cm-1)至远红外 (10cm-1) 进行检测。
产品货号：FT/IR-6000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：2382 商家询价
日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服・光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。
产品货号：M-210/220/230/240/550/ELC-300 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1702 商家询价
日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列，世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。
产品货号：NFS series 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1827 商家询价
MSV-5000系列是测量紫外区域到近红外区域广范围波长领域内的微小样品以及微小部位的透过・反射测量的显微分光系统。广泛应用于电子元件的透过・反射特性的评价、半导体的能隙测量，计测膜厚、功能性结晶光学特性评价、色彩分析等领域。
产品货号：MSV-5000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：3981 商家询价
NRS-5000/7000系列具有显微激光拉曼光谱仪所要求的功能，可以自动控制系统和光学系，可以获得稳定的高精度的数据。搭载波数和拉曼强度的自动补正和测定建议辅助功能，具有高速映射功能。
产品货号：NRS-5000/7000 series 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：4660 商家询价
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
产品货号：UTS-2000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1904 商家询价
FVS-6000是适合用于以手性分子构造解析为目的，测定红外区域振动圆偏光二色性的装置。可以获得糖类等在UV/VIS区域没有吸收化合物的光学活性信息以及分子绝对配置的决定的信息。
产品货号：FVS-6000 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：2186 商家询价
LC-4000的诞生是为了满足新时代实验室的需要。Standard ・・・・ 标准的系统Evolution ・・・・ 新的技术Extension ・・・・ 优异的扩张性Detection ・・・}
产品货号：LC-4000 / UHPLC RHPLC 半制备 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1645 商家询价
自动绝对反射率测量装置一边变化照到样品的入射角，一边测量反射率以及透过。用于太阳能电池零件，半导体，薄膜，光学元件等各种固体样品的分光特性或者膜厚等的测量。入射角通过旋转样品台设定，受光角通过滑动积分球控制。另外，能用非同步方式分别设定入射角和受光角
产品货号：ARMV734/735 产地：日本分光（株）/JASCO 价格：询价 点击数：1795 商家询价